顆粒分析
孔隙率
Prior程序控制電動(dòng)載物臺(tái)
偏光顯微鏡BX53P
層厚度測(cè)量
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡STM7
DP74
DP27
自動(dòng)聚焦裝置
汽車(chē)行業(yè)質(zhì)量控制
Linkam顯微鏡熱臺(tái)
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
即時(shí)景深擴(kuò)展(EFI)
面積法晶粒度
DP22
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
光源以及配件
研究型連續(xù)變倍SZX系列
STREAM軟件特點(diǎn)
輔助聚焦裝置
鑄鐵
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
普及型連續(xù)變倍SZ系列
截點(diǎn)法晶粒度
Presi制樣設(shè)備
PCB電鍍分布能力
夾雜物最?lèi)毫右晥?chǎng)法
簡(jiǎn)易型BXFM
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
OLS5100激光共焦顯微鏡
圖譜對(duì)照
焊接
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